圖為成都摩爾實驗室總經(jīng)理致開幕辭
為讓西南地區(qū)廣大的電子產(chǎn)品生產(chǎn)和研發(fā)企業(yè)進(jìn)一步掌握現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)的試驗方法，了解環(huán)境與可靠性技術(shù)發(fā)展的最新趨勢及未來標(biāo)準(zhǔn)發(fā)展方向，由全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會主辦，成都摩爾實驗室、成都高新區(qū)環(huán)境與可靠性測試公共技術(shù)平臺、成都市科學(xué)技術(shù)情報研究所承辦，上海蘇試眾博環(huán)境試驗技術(shù)有限公司、偉思富奇環(huán)境試驗儀器（太倉）有限公司協(xié)辦的2014年西南地區(qū)“環(huán)境試驗與可靠性工程技術(shù)創(chuàng)新論壇暨GJB150A培訓(xùn)會”于2014年12月4日至5日在成都康普雷斯大酒店成功舉辦。
整個論壇為期兩天，邀請了國內(nèi)環(huán)境與可靠性技術(shù)領(lǐng)域的專家，王德言教授、王樹榮教授、施榮明教授到會發(fā)言；包括四川長虹、成都聯(lián)想、成都飛機設(shè)計研究所、中國電子集團第三十研究所、成都華為、成都大唐電信、成都九洲電子、中科院光電技術(shù)研究所、先進(jìn)科技、中國工程物理研究研應(yīng)用電子研究所、成都衛(wèi)士通、邁普科技、西科微波等80余家企事業(yè)單位，共140余名來賓參加了本次論壇和培訓(xùn)。
對于本次論壇及培訓(xùn)，參會嘉賓都給予極高評價，不僅會務(wù)安排周到合理，最重要的是內(nèi)容豐富，且能解決實際工作中的問題，希望主辦方將這類論壇辦成一個西南地區(qū)環(huán)境與可靠性技術(shù)交流的盛會。
